8 tommer 200 mm silisiumkarbid SiC-skiver 4H-N type Produksjonsgrad 500um tykkelse

Kort beskrivelse:

Shanghai Xinkehui Tech.Co., Ltd tilbyr det beste utvalget og prisene for høykvalitets silisiumkarbidskiver og substrater opp til 8 tommers diameter med N- og halvisolerende typer.Små og store halvlederenheter og forskningslaboratorier over hele verden bruker og stoler på våre silikonkarbidskiver.

Send e-post til oss

Produkt detalj

Produktetiketter

200 mm 8 tommer SiC-substratspesifikasjon

Størrelse: 8 tommer;

Diameter: 200mm±0,2;

Tykkelse: 500um±25;

Overflateorientering: 4 mot [11-20]±0,5°;

Hakkorientering:[1-100]±1°；

Hakkdybde: 1±0,25 mm;

Mikrorør: <1cm2;

Sekskantplater: Ingen tillatt;

Resistivitet: 0,015~0,028Ω;

EPD:<8000cm2;

TED: <6000cm2

BPD: <2000cm2

TSD: <1000cm2

SF: område <1 %

TTV≤15um；

Warp≤40um；

Bue≤25um；

Polyområder: ≤5 %;

Scratch: <5 og kumulativ lengde< 1 Wafer Diameter;

Sponer/innrykk: Ingen tillater D>0,5 mm Bredde og dybde;

Sprekker: Ingen;

Flekk: Ingen

Waferkant: Fas;

Overflatefinish: Dobbel sidepolering, Si Face CMP;

Emballasje: Multi-wafer-kassett eller enkel wafer-beholder;

De nåværende vanskelighetene i utarbeidelsen av 200 mm 4H-SiC krystaller mainl

1) Fremstilling av høykvalitets 200 mm 4H-SiC frøkrystaller;

2) Stor størrelse temperaturfelt ujevnhet og kjernedannelse prosesskontroll;

3) Transporteffektiviteten og utviklingen av gassformige komponenter i store krystallvekstsystemer;

4) Krystallsprekker og spredning av defekter forårsaket av stor termisk spenningsøkning.

For å overvinne disse utfordringene og oppnå høykvalitets 200 mm SiC-wafere-løsninger foreslås:

Når det gjelder 200 mm frøkrystallforberedelse, ble passende temperaturfeltstrømningsfelt og ekspanderende sammenstilling studert og designet for å ta hensyn til krystallkvalitet og ekspanderende størrelse;Start med en 150 mm SiC se:d-krystall, utfør frøkrystalliterasjon for å gradvis utvide SiC-krystallen til den når 200 mm;Gjennom multippel krystallvekst og prosessering, optimalisere gradvis krystallkvaliteten i det krystallutvidende området, og forbedre kvaliteten på 200 mm frøkrystaller.

Når det gjelder 200 mm ledende krystall og substratpreparering, har forskning optimalisert temperaturfelt- og strømningsfeltdesignet for krystallvekst i stor størrelse, gjennomføre 200 mm ledende SiC-krystallvekst og kontrollere dopingensartethet.Etter grovbearbeiding og forming av krystallen ble det oppnådd en 8-tommers elektrisk ledende 4H-SiC ingot med standard diameter.Etter kutting, sliping, polering, bearbeiding for å oppnå SiC 200 mm wafere med en tykkelse på 525um eller så