8-tommers silisiumskive P/N-type (100) 1-100Ω dummy-gjenvinningssubstrat

Kort beskrivelse:

Stort lager av dobbeltsidige polerte wafere, alle wafere fra 50 til 400 mm i diameter. Hvis spesifikasjonen din ikke er tilgjengelig i lageret vårt, har vi etablert langsiktige forhold til mange leverandører som kan spesialprodusere wafere som passer enhver unik spesifikasjon. Dobbeltsidige polerte wafere kan brukes til silisium, glass og andre materialer som vanligvis brukes i halvlederindustrien.

Send e-post til oss

Produktdetaljer

Produktetiketter

Introduksjon av waferboks

8-tommers silisiumskiver er et vanlig brukt silisiumsubstratmateriale og er mye brukt i produksjonsprosessen for integrerte kretser. Slike silisiumskiver brukes ofte til å lage ulike typer integrerte kretser, inkludert mikroprosessorer, minnebrikker, sensorer og andre elektroniske enheter. 8-tommers silisiumskiver brukes ofte til å lage brikker av relativt store størrelser, med fordeler som et større overflateareal og muligheten til å lage flere brikker på en enkelt silisiumskiver, noe som fører til økt produksjonseffektivitet. 8-tommers silisiumskiver har også gode mekaniske og kjemiske egenskaper, noe som er egnet for storskala integrerte kretsproduksjon.

Produktfunksjoner

8" P/N-type, polert silisiumskive (25 stk.)

Orientering: 200

Resistivitet: 0,1–40 ohm•cm (Kan variere fra batch til batch)

Tykkelse: 725 +/- 20 um

Prime/Skjerm/Testkarakter

MATERIALEGENSKAPER

Parameter	Karakteristisk
Type/Dopant	P, bor N, fosfor N, antimon N, arsenikk
Orienteringer	<100>, <111> avskjæringsretninger i henhold til kundens spesifikasjoner
Oksygeninnhold	10¹⁹ppmA Tilpassede toleranser i henhold til kundens spesifikasjoner
Karboninnhold	< 0,6 ppmA

MEKANISKE EGENSKAPER

Parameter	Prime	Overvåk/test A	Test
Diameter	200 ± 0,2 mm	200 ± 0,2 mm	200 ± 0,5 mm
Tykkelse	725±20µm (standard)	725 ± 25 µm (standard) 450 ± 25 µm 625 ± 25 µm 1000±25µm 1300 ± 25 µm 1500±25 µm	725±50µm (standard)
TTV	< 5 µm	< 10 µm	< 15 µm
Bue	< 30 µm	< 30 µm	< 50 µm
Pakk inn	< 30 µm	< 30 µm	< 50 µm
Kantavrunding	SEMI-STD
Merking	Kun primær halvleilighet, halvleiligheter i standard Jeida-leilighet, hakk

Parameter	Prime	Overvåk/test A	Test
Kriterier for forsiden
Overflatetilstand	Kjemisk Mekanisk Polert	Kjemisk Mekanisk Polert	Kjemisk Mekanisk Polert
Overflateruhet	< 2°C	< 2°C	< 2°C
Forurensning Partikler ved >0,3 µm	= 20	= 20	= 30
Dis, groper Appelsinskall	Ingen	Ingen	Ingen
Sag, merker Striasjoner	Ingen	Ingen	Ingen
Kriterier for baksiden
Sprekker, kråketær, sagmerker, flekker	Ingen	Ingen	Ingen
Overflatetilstand	Etsende etset